蔡司顯微光學(xué)解決方案

簡(jiǎn)要描述：蔡司顯微光學(xué)解決方案：借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡(jiǎn)單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。

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更新時(shí)間：2024-09-18
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詳細(xì)介紹

　　蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時(shí)代

　　借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡(jiǎn)單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。

　　技術(shù)參數(shù)：

　　MultiSEM 同時(shí)運(yùn)用了多條電子束(綠色：照明通路)和多個(gè)探測(cè)器。微調(diào)探測(cè)通路能夠收集大量的二次電子(SE)用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號(hào)到達(dá)(紅色：探測(cè)通路)多探測(cè)器陣列。每條電子束在樣品的一個(gè)位置執(zhí)行同步掃描程序，以此獲得單個(gè)拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。

　　并行計(jì)算機(jī)設(shè)置程序用于快速記錄數(shù)據(jù)，確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中獨(dú)立。

特點(diǎn)：

　　高速度和納米分辨率采集圖像

　　91 條電子束同時(shí)工作，擁有出色的成像速度。

　　在幾分鐘內(nèi)對(duì)1 mm²的區(qū)域成像，分辨率高達(dá) 4 nm。

　　借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測(cè)器，以低信噪比采集高襯度圖像。

　　大型樣品的采集和成像

　　MultiSEM 配備有一個(gè)可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。對(duì)整個(gè)樣品成像并發(fā)現(xiàn)所有細(xì)節(jié)，助力于科研。自動(dòng)采集方案可實(shí)現(xiàn)大面積成像 - 您將獲得精細(xì)的納米圖像，且不丟失可見信息。

　　ZEN 成像軟件

　　使用成熟的ZEN軟件簡(jiǎn)便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應(yīng)用于所有蔡司成像系統(tǒng) 智能化自動(dòng)調(diào)節(jié)程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像根據(jù)樣品的實(shí)際情況，快速輕松地創(chuàng)建復(fù)雜的自動(dòng)采集流程 MultiSEM的ZEN 軟件可高速進(jìn)行連續(xù)并行成像開放的API軟件接口可提供靈活快速的應(yīng)用開發(fā)

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